သတင်း

FAF စက်ရုံရှိတိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာပစ္စည်းကိရိယာများစွာရှိသည်။ ဘုံပစ္စည်းကိရိယာများတွင် lithography လုပ်ငန်းစဉ်တိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာပစ္စည်းကိရိယာများ, Pet Thin Field Thin Mosition Process Production လုပ်ငန်းစဉ်တိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာပစ္စည်းကိရိယာများ, စင်တီမီတာတိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာပစ္စည်းကိရိယာများ,

Tantalum carbide (TaC) coating သည် မြင့်မားသော အပူချိန်ခံနိုင်ရည်၊ ချေးခံနိုင်ရည်၊ စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ဂုဏ်သတ္တိများနှင့် အပူစီမံခန့်ခွဲမှုစွမ်းရည်များကို မြှင့်တင်ပေးခြင်းဖြင့် ဂရပ်ဖိုက်အစိတ်အပိုင်းများ၏ သက်တမ်းကို သိသိသာသာ သက်တမ်းတိုးနိုင်သည်။ ၎င်း၏မြင့်မားသောသန့်ရှင်းမှုဝိသေသလက္ခဏာများသည်ညစ်ညမ်းမှုညစ်ညမ်းမှုကိုလျှော့ချ၊ crystal ကြီးထွားမှုအရည်အသွေးကိုမြှင့်တင်ရန်နှင့်စွမ်းအင်ထိရောက်မှုကိုတိုးမြှင့်စေသည်။ ၎င်းသည် တစ်ပိုင်းလျှပ်ကူးပစ္စည်းထုတ်လုပ်ခြင်းနှင့် အပူချိန်မြင့်မားသော၊ အလွန်အဆိပ်ပြင်းသောပတ်ဝန်းကျင်များတွင် အသုံးပြုရန်အတွက် သင့်လျော်သည်။

Tantalum Carbide (TAC) ကိုကန့်သတ်ထားသော Semiconductor field များတွင်အဓိကအားဖြင့် Estitaxial Commonomal Commonents, Crystal Componoms ၏အစိတ်အပိုင်းများ, အပူချိန်မြင့်မားသောစက်မှုလုပ်ငန်းအစိတ်အပိုင်းများ,

SIC ofagaxial တိုးတက်မှုလုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း SIC COC COC COUCTEDING ဆိုင်းငံ့မှုပျက်ကွက်မှုဖြစ်နိုင်သည်။ ဤစာတမ်းသည်အဓိကအားဖြင့်အချက်နှစ်ချက်များပါ 0 င်သော SIC coable coagner လုပ်ရပ်၏ပျက်ကွက်မှုဖြစ်စဉ်ကိုတိကျခိုင်မာစွာခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းကိုပြုလုပ်ခဲ့သည်။